實(shí)習(xí)報(bào)告的優(yōu)秀范文
一、 實(shí)習(xí)目的與要求
1. 明確地物波譜測(cè)試在遙感技術(shù)與應(yīng)用中的重要作用；
2. 了解光譜儀的結(jié)構(gòu)及測(cè)試原理；
3. 掌握地物光譜儀的測(cè)量方法；
4. 掌握光譜處理軟件的處理方法；
5. 實(shí)地測(cè)量多種地物的`反射波譜并分析其特征；
二、 實(shí)習(xí)計(jì)劃及安排
時(shí)間 工作內(nèi)容
周一 實(shí)習(xí)動(dòng)員，明確實(shí)習(xí)目的和任務(wù)，儀器熟悉。
周二 實(shí)驗(yàn)室內(nèi)掌握光譜儀器操作。
周三周四 選取晴好、無風(fēng)天氣，分組完成主要地物波譜測(cè)試，并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。
周五 光譜數(shù)據(jù)導(dǎo)出，生成光譜曲線圖并分析，撰寫實(shí)習(xí)報(bào)告。
三、 實(shí)驗(yàn)設(shè)備及樣本
1、光譜儀HR4000、2.參考板、3.手持GPS、4.相機(jī)、
5.記錄本 6、光纖探頭 7、筆記本電腦 8、實(shí)驗(yàn)樣本（根據(jù)實(shí)測(cè)地物填寫）
四、HR4000簡介
HR4000CG-UV-NIR，新一代高分辨率光譜儀，是全新的光學(xué)和電子學(xué)器件組合。適合應(yīng)用于激光特征分析，反射率測(cè)量和確定原子散射線等領(lǐng)域。配有全新的Toshiba的3648像素CCD陣列探測(cè)器，光學(xué)分辨率可達(dá)0.02nm（FWHM）。HR4000光譜范圍為200-1100nm，具體的光譜范圍和分辨率配置取決于實(shí)際光柵和狹縫的選擇。適用于計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng): Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X and Linux（USB接口）；任何32-bit Windows操作系統(tǒng)（串口）。通過“SpectraSuit”軟件進(jìn)行光譜測(cè)量及相關(guān)分析。
五、野外反射率測(cè)定原理
野外測(cè)量實(shí)習(xí)采用垂直測(cè)量的方法，為使所有數(shù)據(jù)能與航空、航天傳感器所獲得的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，一般情況均采用垂直向下測(cè)量方法，以便與多數(shù)傳感器采集數(shù)據(jù)的方向一致。由于實(shí)地情況非常復(fù)雜，測(cè)量時(shí)常將周圍環(huán)境的變化忽略，認(rèn)為實(shí)際目標(biāo)與標(biāo)準(zhǔn)板的測(cè)量值紙幣就是反射率之比。計(jì)算公式如下：
為標(biāo)準(zhǔn)板反射率， 、 為測(cè)量物體和標(biāo)準(zhǔn)板的儀器測(cè)量值。這種測(cè)量方法沒有考慮入射角度變化時(shí)造成的反射輻射值的變化。
六、實(shí)驗(yàn)步驟及（把軟件截圖放上去）
1、 打開電腦，啟動(dòng)軟件，將光譜儀相關(guān)設(shè)備連接好
2、 打開標(biāo)準(zhǔn)板
最后一步(自行編號(hào)).圖表顯示窗口，打印機(jī)圖標(biāo)右側(cè)有一個(gè)“復(fù)制光譜數(shù)據(jù)到剪切板”按鈕 ，點(diǎn)擊，然后打開Excel，選中列，復(fù)制即可。在excel表格中，不同地物分別存儲(chǔ)。并繪制和分析光譜曲線，保存相關(guān)數(shù)據(jù)。
七、注意事項(xiàng)：
1. 由于太陽的輻射強(qiáng)度及環(huán)境的改變，一般情況下，每次遷移到新的測(cè)量點(diǎn)，要用白板再次校正。
2. 注意人身的儀器安全，注意保護(hù)光纖探頭和白板，光纖很脆弱。
3. 戶外光線較強(qiáng)，筆記本屏幕難以看清，建議帶太陽傘遮陽。
4. 光譜測(cè)量分組測(cè)試，每組測(cè)試完做好儀器交接，并注意保存自己的觀測(cè)數(shù)據(jù)。
5. 探頭視場為4°，注意根據(jù)測(cè)試地物的橫截面積大小調(diào)整測(cè)量時(shí)光纖探頭距離目標(biāo)物的遠(yuǎn)近。
八、地物樣本測(cè)試結(jié)果與分析
1.
時(shí)間：地點(diǎn)：風(fēng)速：氣溫：
成員：
樣本照片，
反射波譜圖及分析
九、 誤差分析
1. 白板反射難以達(dá)到100%，時(shí)間推移，白板上沾有灰塵或是白板氧化，都會(huì)導(dǎo)致白板反射率降低。在測(cè)量反射率的過程中，地物的反射率測(cè)量會(huì)產(chǎn)生一定的誤差。
2. 地物波譜中某些波長上的點(diǎn)值會(huì)溢出，這是由測(cè)試系統(tǒng)本身或操作不當(dāng)造成誤差。
3. 在測(cè)量過程中，手持探頭不平穩(wěn)，晃動(dòng)也會(huì)造成光譜曲線偏差。
4. 操作不精確，測(cè)量次數(shù)太少造成隨機(jī)誤差偏大。
5. 探頭測(cè)試距離不合適，視場中混入其它像元帶來誤差。
十、 實(shí)習(xí)總結(jié)
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